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                离子污染测试的发展和讨论
                1. [ 日期:2018-11-15 查看次数:1694 ]
                关于离子污染测试仪的发展和讨论摘要:本文着重介绍用于对清洗后电路板◥上的残余离子污染物的测试手段,国外关于此领域的相︼关标准以及这些相关标准和手段的发展过↘程。比较了不同仪器的一些主要参数和应用现状,部分用户需求动向和√如何满足的方法。关键词:清洗离子污染物测试电阻率电导率原子吸收

                随着改革开放,中国的电◢子业获得了飞速发展,电子工业的★各个领域均进行了技术革新和技术引入,并逐渐ξ形成系统和理论。在 sAI - f 技术这个领域也获得了较大发展,甚至有的学院已经建立了♂关于 sN . ' l ' f 技术的专业。清洗是 sN1 ' f 工艺的一个重要组成部ζ 分,而对清洗后残存的离子污染物的测试则是对清洗工艺进行控制Ψ和监测的一个重要组成部分。环境不仅关系↘到人类的生活,并且对电子产品的▓使用寿命和稳定性产生重要影响。在二次世界大战期间,在战斗「中使用的电信器材的损坏有 5 ( ) “是由于环境气候引起的腐蚀和霉变等造成的,而存←放在库房中的产品的损坏率高达以)叹。由此,涂敷保护进入了电子业。而涂层是对外部环境的影响的阻隔,而在组装产品生产过程中弓}入的微粒污╲垢、离子性导电污垢和有腐蚀作用的污垢,如果未加∞清洗,则涂层失去了保护的意义,因为其内部已经受到污染。而清洗后一定』要有一种手段能够对其进行监控,即测试电路板是否已经达到了清洁标准。这※就是要对离子污染进行测试的原因。美国最早对此进行了研究,并制定了相关标准。


                什∏么是离子污染测试仪?离子污染物的特色是可溶于水,并且通常为有机或无机酸和盐。电子部件和元器件经常暴露于波峰焊、热空气环境、电镀、刻蚀和化学清洁的等工艺过程中的污染物。离子污△染钡 l 试是用超纯净的萃取溶液从电子部件上移去工〓艺过程中留下的残余物。对清洁结果的钡 l 量是以传导率或电阻系数为评判依据,把钡 l 量值与标准比较。在此,标准【是在纯的 75 " lP 刀 25 " 水溶液中钡 l 量氯化钠的传导率或电阻系◇数。依据决定需要给出此读数的 NaCI 的数量的方式,测试结果可以表示为一个传导率或电阻系数的函〖数,或更好地表示为在每单位样品面积上等量的※氯化钠。一个样品测试读数为 4 . 5 微克 NaCI /平方厘米,意谓着在测试结束时传导率或电阻系数⊙等同于 4 . 5 微克 NaC !给出的数据而不是实际钡 l 到了 4 . 5 微克 Nacl 。


                离子污染测试仪的起源 l 试的起①源最早记载的污染萃取测量方法是由贝尔实验室的’ f .卜 Lgan 提出的。最初测试使→用 l ( x ) % 去离子水。印第安那波利斯的海军航空♂电子中心进行了改进,他们使用 IP . , v 水的混和物来提高去除松香残余物。此方法需要一个人手动○喷淋醇 l 水溶液到钡 l 试样︾品上面。一旦喷淋和收集的数量达到川 nll 每平方英寸测试样品的表面积,则停¤止啧琳并且侧量溶液的电阻值。此方式成为最原始的“测量方法” ( M IL 一 P 一 288 (为)。由于通过/失败限度,需要萃取的溶液必须有最小 2 入 p 的电阻值。, \ l 油 a mctal 的 Jack Br 曲、博士独立开发了以◤“动态”方■式著名的改进技术。后来的影响使这些钡 l 试技术形成了两种主要类□型的测试仪器一一静态和动态。

                仪器用途:用于PCB电路板清洗工序前后离子污染程度的测试


                仪器特点:1.结构采用№全封闭循环系统2.测试方法:静态/动态一体。3.可根据客户要求容〇量定制



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